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薄膜沉积材料·金属薄膜

金属薄膜

半导体薄膜沉积核心金属源材,通过 PVD/CVD/ALD 工艺在晶圆表面制备导电、阻挡、互连金属薄层,是芯片布线、接触孔、电极制程的基础材料。

品类概述


金属薄膜沉积材料是半导体薄膜制程核心源材,包含各类高纯金属靶材、金属有机前驱体、金属蒸发颗粒等,借助物理 / 化学沉积工艺在硅片、化合物衬底表面生成均匀致密金属薄膜。
材料采用超高纯金属提纯工艺,杂质含量极低,薄膜具备稳定导电、阻挡扩散、粘附衬底等性能,可实现多层金属互连、器件欧姆接触、防金属扩散阻挡层、封装焊盘电极等核心功能。。

核心特征


技术参数


参数项
典型范围

金属品类

Cu、Al、W、Ti、Ta、Co、Ni、Au、Pt、TiN、TaN 合金

金属纯度

4N ~ 6N(99.99% ~ 99.9999%)

适用沉积工艺

PVD 磁控溅射、CVD 化学沉积、ALD 原子层沉积、电子束蒸发

薄膜厚度区间

5nm ~ 3μm

方块电阻范围

0.05 ~ 1000 Ω/□(随金属与厚度变化)

工作温度区间

室温~500℃

适用衬底

硅片、SiC/GaN、SOI、氧化硅、氮化硅、玻璃、PI 封装基底

合作品牌


【美国 Materion】

主营蒸镀靶材、溅射靶材,各类高纯金属、合金靶材是磁控溅射、热蒸镀制备金属导电薄膜的核心原料,适配半导体电极、MEMS 金属布线薄膜制备,可产出均匀致密金属膜层。

【日本 Nippon】

日本高纯金属靶材龙头,自研 6N 超高纯铜、钽、钛、钴溅射靶材,全产业链一体化生产。可沉积布线、阻挡层、封装金属薄膜,适配先进制程芯片、MEMS,成膜均匀杂质少,全球晶圆厂主流金属薄膜原料供应商。

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应用领域


先进 IC 逻辑 / 存储芯片

多层铜互连、钨接触孔、钛钽扩散阻挡层、铝焊盘布线

功率半导体器件

SiC/GaN 功率器件欧姆接触金属、栅极金属、功率电极薄膜

先进封装制程

RDL 重布线金属层、UBM 凸点底层金属、晶圆键合导电层

射频 / 化合物半导体

GaAs 射频器件金属电极、欧姆接触、屏蔽金属薄膜

掩模版与分立器件

分立二极管三极管接触金属、光掩模遮光金属薄膜

科研微纳加工平台

实验室薄膜沉积试样、新型金属互连工艺研发验证

**注:因产品迭代优化,网站展示参数可能存在微调,产品/设备的真实性能及各项技术参数以实际确认和交付为准。

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